测镀层X荧光光谱仪
产品详情
测镀层X荧光光谱仪 规格：
1.元素分析范围:硫-铀（S-U）
2.元素含量分析范围：1PPM~99.99%
3.zui低检出限：1PPM
4.镀层检验厚度：0.005-50μm（视材料类型而有所不同）
5.样品腔尺寸：150*120*50（MM)
测镀层X荧光光谱仪 应用领域：
镀层成分分析
镀层厚度分析
镀层环保检测
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