测镀层X荧光光谱仪可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

　　一、性能特点：

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

　　φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

　　高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

　　采用高度定位激光，可自动定位测试高度

　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

　　高分辨率探头使分析结果更加

　　良好的射线屏蔽作用

　　测试口高度敏感性传感器保护

　　二、应用领域：

　　黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

　　金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。

　　主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

　　三、技术指标：

　　元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

　　一次可同时分析较多24个元素，五层镀层。

　　分析检出限可达2ppm，较薄可测试0.005μm。

　　分析含量一般为2ppm到99.9%。

　　镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

　　任意多个可选择的分析和识别模型。

　　相互独立的基体效应校正模型。

　　多变量非线性回收程序

　　多次测量重复性可达0.1%

　　长期工作稳定性可达0.1%

　　度适应范围为15℃至30℃。

　　以上就是测镀层X荧光光谱仪的性能特点及应用领域，希望能帮助大家更好地了解测镀层X荧光光谱仪。